Technik und Mathematik
Technik und Mathematik haben mich immer schon fasziniert.
Meine Ausbilung startete ich im kaufmännischen Bereich, aber mir war schnell klar, dass ich einen anderen Weg einschlagen wollte.
Seitdem war ich über verschiedenste Stationen immer wieder im Bereich Technik und Mathematik tätig.
Als ich 2009 meine nebenberufliche Dissertation in Statistik abschloß, konnte ich mich noch stärker meiner Leidenschaft, der Mathematik, widmen.
Mein beruflicher Pfad:
- Ingenieurbüro für Technische Mathematik - Statistik:
- seit 2013 bis heute
- Externer Lektor an der Alpen Adria Universität
- seit 2010 bis heute
- Quality Manager/Statistiker bei Infineon Technologies Austria AG:
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- seit 2003 bis heute
- Quality Engineer / Lead Engineer bei Flextronics AG
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- 1998 - 2001: Althofen, Österreich
- 2002 - 2003: Barcelona, Spanien
Meine Ausbildung:
- Dr. rer. nat., Statistik (2009)
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- Alpen Adria Universität, Klagenfurt, Österreich
- Technische Physik (1998)
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- Technische Universität Wien, Österreich
- Handelsakademie (1990)
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- Handelsakademie 2, Klagenfurt, Österreich
Meine Publikationen:
- Fractional Failures Sampling—An Alternative to Zero Failures Sampling Plans. H. Lewitschnig and A. Fanzott. IEEE Transactions on Reliability, vol. 68, issue 2, June 2019.
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An overview on recent advances in statistical burn-in modeling for semiconductor devices. Kurz, D., Lewitschnig, H., & Pilz, J., in: Springer Proceedings in Mathematics & Statistics: Statistics and Simulation - IWS 8, Vienna, Austria; 2018
- Determination of tolerance limits for the reliability of semiconductor devices using longitudinal data. Vera Hofer, Johannes Leitner, Horst Lewitschnig, Thomas Nowak, in: Quality and Reliability Engineering International, Volume 33, Issue 8, Dec. 2017
- Failure probability estimation under additional subsystem information with application to semiconductor burn-in. Daniel Kurz, Horst Lewitschnig, Jürgen Pilz, in: Journal of Applied Statistics, Volume 44, Issue 6, 2017.
- Failure probability estimation with differently sized reference products for semiconductor burn-in studies. Daniel Kurz, Horst Lewitschnig, Jürgen Pilz, in: Applied Stochastic Models in Business and Industry, Volume 31, Issue 5, Sept./Oct. 2015.
- Advances on the Stress Interaction Model. Horst Lewitschnig, in: IEEE Transactions on Reliability, vol. 64, no. 1, March 2015.
- An advanced area scaling approach for semiconductor burn-in. Daniel Kurz, Horst Lewitschnig, Jürgen Pilz, in: Microelectronics Reliability, Feb. 2014.
- Decision-Theoretical Model for Failures Which are Tackled by Countermeasures. Daniel Kurz, Horst Lewitschnig, Jürgen Pilz, in: IEEE Transcations on Reliablity, vol. 63, no. 2, June 2014.
- Advanced Bayesian Estimation of Weibull Early Life Failure Distributions. Daniel Kurz, Horst Lewitschnig, Jürgen Pilz, in: Quality and Reliability Engineering International, Volume 30, Issue 3, April 2014.
- Mitautor des Automobilstandards AEC-Q002 Rev. B - Guidelines for Statistical Yield Analysis, von Automotive Electronic Council vom 12.01.2012.
- Mitautor des Automobilstandards AEC-Q001 Rev. D - Guidelines for Part Average Testing, von: Automotive Electronic Council vom 09.12.2011.
- Quality Assurance in Automotive Electronics. V. Müller, H. Lewitschnig, N. Kortik, W. Kanert, in: e&i - elektronik und informationstechnik, Heft 10.2011.
